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1000小時(shí)高溫老化試驗(yàn)服務(wù)

   日期:2023-03-27     來源:北京檢測(cè)信息網(wǎng)    作者:張建忠    瀏覽:197    評(píng)論:0     買帖  | 修改  | 投訴  | 刷新
1000小時(shí)高溫 

北京儀綜所環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測(cè)中心提供:

高溫老化試驗(yàn);

高溫高濕人工加速老化試驗(yàn);

高溫加速電暈老化試驗(yàn)分析及其壽命預(yù)測(cè);

通常情況下,進(jìn)行1000小時(shí)高溫老化試驗(yàn)過程中,設(shè)備是處于通電工作狀態(tài)的。讓設(shè)備工作于其高溫工作的上限溫度,進(jìn)行連續(xù)的1000小時(shí)工作試驗(yàn)。

北京儀綜所高溫老化試驗(yàn)箱,可以進(jìn)行這類的高溫老化試驗(yàn),用于驗(yàn)證電力、電信行業(yè)的板卡、服務(wù)器等長(zhǎng)期處于工作狀態(tài)下的設(shè)備的工作穩(wěn)定性。

我檢測(cè)機(jī)構(gòu)具備CNAS、CMA試驗(yàn)資質(zhì),出具的檢測(cè)報(bào)告是國(guó)家認(rèn)可的第三方檢測(cè)報(bào)告。模擬溫度變化條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行質(zhì)量及可靠性測(cè)試。例如電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn),電子零配件、塑化產(chǎn)品高溫老化試驗(yàn)。

高溫老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364 MIL-STD-810F等。

高溫老化測(cè)試的目的:

高溫老化測(cè)試是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器等)模擬高溫、惡劣環(huán)境的可靠性測(cè)試,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要手段、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。

老化測(cè)試主要是模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用過程中的各種惡劣條件的高強(qiáng)度測(cè)試,同時(shí)根據(jù)使用的要求,合理地預(yù)測(cè)產(chǎn)品使用壽命,高溫老化測(cè)試也就是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。

進(jìn)行電氣產(chǎn)品高溫試驗(yàn)、高溫老化試驗(yàn)等環(huán)境測(cè)試項(xiàng)目可找北京儀綜所環(huán)境可靠性試驗(yàn)及電磁兼容檢測(cè)中心測(cè)試,我司擁有高溫老化試驗(yàn)箱等設(shè)備,是國(guó)內(nèi)權(quán)威的高溫試驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室,提供電子產(chǎn)品、家用電器、無線、電路板、芯片設(shè)備的高溫老化、高溫壽命試驗(yàn)。

北京儀綜所環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測(cè)中心張工:13911260297


 
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