北京儀綜所低溫檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，提供低溫環(huán)境試驗(yàn)、低溫貯存/儲(chǔ)存、低溫工作/運(yùn)行試驗(yàn)，低溫溫度-70℃的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。為各類儀器儀表、電控儀器、醫(yī)用電氣設(shè)備、電路板卡、機(jī)箱機(jī)柜、軌道幾桶設(shè)備、測(cè)量?jī)x器、信號(hào)控制設(shè)備等設(shè)備提供低溫測(cè)試。

檢測(cè)中心是省部級(jí)以上的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具備CNAS資質(zhì)、CMA資質(zhì)，獨(dú)立的操作空間，是大型的綜合性的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，提供一站式產(chǎn)品檢測(cè)服務(wù)。

低溫試驗(yàn)所屬現(xiàn)代詞，指的是把試樣暴露在低溫環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn)，通常用溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間表示嚴(yán)酷等級(jí)。

中文名稱：低溫試驗(yàn)

英文名稱：low-temperature test

定義：把試樣暴露在低溫環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn)，通常用溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間表示嚴(yán)酷等級(jí)。應(yīng)用學(xué)科：機(jī)械工程（一級(jí)學(xué)科）；實(shí)驗(yàn)室儀器和裝置（二級(jí)學(xué)科）；氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備-氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備測(cè)量方法（三級(jí)學(xué)科）

低溫試驗(yàn)的目的是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性。

GB/T2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫》是最基礎(chǔ)的低溫環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，幾乎所有的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的低溫試驗(yàn)方法，均按照此標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行低溫試驗(yàn)。

低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)。

低溫試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、上升速率。

注意產(chǎn)品從低溫箱取出時(shí)由于溫度突變會(huì)產(chǎn)生冷凝水。（對(duì)溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗(yàn)均適用）。

樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品表面溫度的均勻性，樣品距離箱壁的距離最少為5cm。

GB/T 2423.1中低溫的試驗(yàn)方法分：散熱樣品的溫度漸變，非散熱樣品的溫度漸變?cè)囼?yàn)結(jié)束后需要將樣品在箱體內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，在特定環(huán)境下會(huì)要求對(duì)樣品吹稍熱的風(fēng)進(jìn)行解凍再進(jìn)行升溫至穩(wěn)定狀態(tài)。